您当前的位置：首页 > 限制短路电流耐受试验
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日
检测项：输出电流限制性能试验 检测样品：通信电源设备 标准：通信用电源设备通用试验方法 GB/T16821-2007
检测项：短路电压 检测样品：电力变压器、电源装置和类似产品 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第1部分：通用要求和试验 GB19212.1-2008 IEC61558-1:2005
机构所在地：四川省成都市
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：栅-源短路时的漏极电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管
检测项：栅-源短路时的漏极电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 》
机构所在地：江苏省连云港市
检测项：短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇
机构所在地：河北省石家庄市
检测项：温度限制和防火 检测样品：钳形电流表 标准：（7）GB 4793.1-2007《测量、控制和试验室用设备的安全要求 第一部分：通用要求》 （8
机构所在地：黑龙江省哈尔滨市
检测项：用8/20冲击电流测限制电压 检测样品：电涌保护器（SPD） 标准：《低压配电系统的电涌保护器（SPD）第1部分：性能要求和试验方法》 GB 18802.1-2002
检测项：用复合波测量限制电压 检测样品：电涌保护器（SPD） 标准：《低压配电系统的电涌保护器（SPD）第1部分：性能要求和试验方法》 GB 18802.1-2002
检测项：用复合波测量限制电压 检测样品：低压电涌保护器（SPD） 标准：《低压电涌保护器（SPD）第1部分：低压配电系统的电涌保护器性能要求和试验方法》GB 18802.1-2011
机构所在地：山东省青岛市
