集成式发送机测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中国电子科技集团公司第七研究所凯尔实验室

检测项：电特性检测样品：非金融IC卡（接触式）标准：ISO/IEC 7816-1-2011 识别卡.集成电路卡.第1部分:带触电的卡.物理特征

检测项：通讯协议检测样品：非金融IC卡（接触式）标准：ISO/IEC 7816-3-2006 识别卡.集成电路卡.第3部分:带触点的卡.电接口和传输协议

检测项：电特性检测样品：非金融IC卡（接触式）标准：ISO/IEC 7816-2:2007 识别卡带触点的集成电路卡-第2部分：触点的尺寸和定位

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

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上海集成电路研发中心有限公司测试实验室

检测项：检测样品：标准：

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香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：短讯服务检测样品：标准：

检测项：层二测试检测样品：WCDMA 移动台标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

检测项：互用性无线电传递测试检测样品：WCDMA 移动台标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：功能测试检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：功能测试检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出短路电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省连云港市更多相关信息>>

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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黑龙江省计量检定测试院

检测项：部分项目检测样品：框式水平仪和条式水平仪标准：《条式和框式水平仪》GB/T16455-2008

检测项：全部项目检测样品：立式接触式干涉仪标准：《立式接触式干涉仪》JB/T8233-1999

检测项：部分项目检测样品：粗糙度测量仪标准：《产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》GB/T 6062-2009

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中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：标准偏差检测样品：条式和框式水平仪标准：GB/T 16455-2008 《条式和框式水平仪》

检测项：工作面表面粗糙度检测样品：条式和框式水平仪标准：GB/T 16455-2008 《条式和框式水平仪》

检测项：X射线检查检测样品：密封半导体集成电路标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出漏电流Iol 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：正电源电流Is+ 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：负电源电流Is- 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

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中国北方车辆研究所测试中心

检测项：全部项目检测样品：筒式减振器标准：QC/T 545-1999 汽车筒式减振器台架试验方法

检测项：电参数测试检测样品：集成电路标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

检测项：老炼检测样品：集成电路标准：GJB128A－97半导体分立器件试验方法方法1039

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上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：全部参数检测样品：膜式煤气表标准：膜式煤气表GB/T 6968-1997

检测项：全部参数检测样品：蒸汽和气体压力式温度计标准：蒸汽和气体压力式温度计JB/T 9259-1999

检测项：部分参数检测样品：容积式流量计标准：容积式流量计通用技术条件JB/T 9242-1999

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血糖及血糖相关参数分析仪器

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