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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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检测项：动作电压测试检测样品：集成电路标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：返回电压测试检测样品：集成电路标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：动作时间测试检测样品：集成电路标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：精度EA 检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：线性误差EL 检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数检测样品：采样/保持放大器标准：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

检测项：动态参数检测样品：采样/保持放大器标准：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

检测项：部分参数检测样品：D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10818-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

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上海集成电路研发中心有限公司测试实验室

检测项：检测样品：标准：

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香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：短讯服务检测样品：标准：

检测项：层二测试检测样品：WCDMA 移动台标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

检测项：互用性无线电传递测试检测样品：WCDMA 移动台标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

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中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：接触式IC卡物理特性检测样品：集成电路(IC)卡标准：1. GB/T 17554.3-2006识别卡测试方法第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 2.ISO/IEC10373-3：2001识别卡－测试方法－第3部分：接触式集成电路卡及相关接口设备

检测项：非接触式IC卡测试方法检测样品：集成电路(IC)卡标准：ISO/IEC 10373-6:2001 识别卡－测试方法－第6部分：邻近卡

检测项：非接触IC卡近距离卡测试方法检测样品：集成电路(IC)卡标准：ISO/IEC 10373-7:2008 识别卡－测试方法－第7部分：近距离卡

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：功能测试检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：功能测试检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出短路电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出漏电流Iol 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：正电源电流Is+ 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：负电源电流Is- 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

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上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目检测样品：税控IC卡标准：SHC1101系列非接触式集成电路卡 Q/OAKC001-2001

检测项：部分项目检测样品：*非接触式IC卡标准：SHC1101系列非接触式集成电路卡 Q/OAKC001-2001

检测项：*部分项目检测样品：接触式IC卡POS机标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000 城市公共交通非接触式集成电路(IC)卡第二部分：收费机技术规范 DB31/239.2-2000

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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