惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：反向电流(IR) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：正向电流(IF) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

检测项：结温 (Tj) 检测样品：发光二极管 (LED) 标准：半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

浙江中通通信有限公司检测中心

检测项：衰减系数 检测样品：光分路器 标准：《平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器》YD/T 2000.1-2009

检测项：偏振模散 检测样品：光分路器 标准：《平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器》YD/T 2000.1-2009

检测项：光缆结构尺寸 检测样品：光分路器 标准：《平面光波导集成光路器件 第1部分：基于平面光波导（PLC）的光功率分路器》YD/T 2000.1-2009

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司

检测项：全项目 检测样品：木工机械 标准：园林设备 - 集成带动力的碎枝机 - 安全 EN 13683:2003+A2

检测项：部分项目 检测样品：木工机械 标准：园林设备 - 集成带动力的碎枝机 - 安全 EN 13683:2003 +A2:2011

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输出低电平电压 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输入电流 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：正向导通电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

检测项：发光强度 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

检测项：正向导通电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器.测量方法 IEC 60747-5-3-2009 LED的测量 CIE-127-2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：光学特性 检测样品：光功率 分路器 标准：平面光波导集成光路器件（第1 部分：基于平面光波导CPLC）的光功率分路器 YD/T 2000.1-2009 光纤藕合器技术条件 YD/T 893-1997 全光纤型分支器件技术条件 YD/T 1117-2001 平面光波导集成光路器件（第1 部分：基

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：正向电压 检测样品：电阻器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：电阻器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

检测项：正向电压 检测样品：耦合器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十三研究所检验中心

检测项：*全部项目 检测样品：平面光波导(PLC)光功率分路器 标准：平面光波导集成光路器件第1 部分:基于平面光波导(PLC)的光功率分路器 YD/T 2000.1-2009

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

华为技术有限公司可靠性实验室

检测项：比吸收率(SAR) 检测样品：移动通信终端 标准：CTIA/Wi-Fi Alliance V1.3 (2009-6) CTIA认证项目，Wi-Fi 移动台集成设备射频性能测试规范

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>