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检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:静态功耗 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
机构所在地:四川省成都市
检测项:25℃下的 静态试验 检测样品:半导体 集成电路 标准:强加速温度和湿度应力测试 JESD22-A110D-2010
检测项:25℃下的 静态试验 检测样品:半导体 集成电路 标准:半导体机械和气候试验方法GB/T4937-1995 方法5b
机构所在地:江苏省无锡市
检测项:挺度 检测样品:纸张 标准:纸和纸板 弯曲挺度的测定 GB/T 22364-2008
检测项:挺度 检测样品:纸张 标准:纸和纸板 弯曲挺度的测定 GB/T 22364-2008
机构所在地:新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市
检测项:静态误差 检测样品:自整角机 标准:自整角机通用技术条件GB/T13138-2008
检测项:静态刚度 检测样品:交流伺服系统 标准:交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439-1996
检测项:静态误差 检测样品:自整角机 标准:自整角机通用技术条件GB/T13138-2008
机构所在地:上海市