非接触卡测试方法检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

搜索条件所在地区: 所属类别:

洁净室（区）中沉降菌的检测

检测项：沉降菌检测样品：洁净室（区）标准：医药工业洁净室（区）沉降菌的测试方法, GB/T 16294-2010

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心更多相关信息>>

我要咨询联系我们
电缆及附件试验方法中护层厚度的检测

检测项：护层厚度检测样品：电缆及附件试验方法标准：EN 50396：2005+A1：2011《低压电力电缆非电气试验方法》

检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心更多相关信息>>

我要咨询联系我们
复合材料中非泡沫塑料密度的检测

检测项：非泡沫塑料密度检测样品：复合材料标准：ISO1183-1:2012《塑料非泡沫塑料的密度测定方法第1部分:浸渍法、液体比重瓶法和滴定法》

检测机构：玻璃钢制品质量检验中心更多相关信息>>

我要咨询联系我们
食品中苯佐卡因的检测

检测项：苯佐卡因检测样品：食品标准：BJS202209 食品中双醋酚丁等19种化合物的测定

检测机构：国家食品质量监督检验中心更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：非接触IC卡近距离卡测试方法检测样品：集成电路(IC)卡标准：ISO/IEC 10373-7:2008 识别卡－测试方法－第7部分：近距离卡

检测项：非接触式IC卡测试方法检测样品：集成电路(IC)卡标准：ISO/IEC 10373-6:2001 识别卡－测试方法－第6部分：邻近卡

检测项：非接触式IC卡测试方法检测样品：集成电路(IC)卡标准：ISO/IEC 10373-6:2001/ Amd.1:2007 识别卡-测试方法-第6部分：邻近卡补充版1：邻近卡协议测试方法

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京尊冠科技有限公司

检测项：非接触卡测试方法检测样品：IC卡标准：ISO/IEC10373-6:2011（E）识别卡－测试方法－第6部分：邻近卡 ISO/IEC10373-6:2001/Amd.7:2010（E）识别卡－测试方法－第6部分：邻近卡补充版7：电子护照测试方法

检测项：接触式IC物理特性测试方法检测样品：IC卡标准：GB/T 17554.1-2006识别卡测试方法第1部分：一般特性测试 ISO/IEC10373-1：2006识别卡-测试方法-第1部分:通用特性

检测项：接触式IC 电气特性测试方法检测样品：IC卡标准：GB/T 17554.3-2006识别卡测试方法第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 ISO/IEC 10373-3:2010识别卡－测试方法－第3部分：接触式集成电路卡及相关接口设备

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目检测样品：非接触式IC卡标准：识别卡-非接触式集成电路卡-临近卡-第一部分:物理特性 ISO/IEC 14443-1-2008 识别卡物理特性 GB/T 14916-2006 识别卡测试方法第1部分：一般特性测试 GB/T 17554.1-2006 城市轨道交通单程票非接触集

检测项：部分项目检测样品：*非接触式IC卡标准：识别卡-非接触式集成电路卡-临近卡-第一部分:物理特性 ISO/IEC 14443-1-2008 识别卡物理特性 GB/T 14916-2006 识别卡测试方法第1部分：一般特性测试 GB/T 17554.1-2006 城市轨道交通单程票非接触集

检测项：部分项目检测样品：*非接触式IC卡标准：SHC1101系列非接触式集成电路卡 Q/OAKC001-2001

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京银联金卡科技有限公司/银行卡检测中心

检测项：非接触式支付应用检测样品：加油（气）卡及其受理设备标准：

检测项：非接触式受理终端检测样品：加油（气）卡及其受理设备标准：

检测项：非接触通讯检测样品：加油（气）卡及其受理设备标准：

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第七研究所凯尔实验室

检测项：物理特性检测样品：非金融IC卡（接触式）标准：ISO/IEC 10373-1-2006 识别卡.试验方法.第1部分:一般特性

检测项：电特性检测样品：非金融IC卡（接触式）标准：ISO/IEC 10373-1-2006 识别卡.试验方法.第1部分:一般特性

检测项：基本功能检测样品：非金融IC卡（接触式）标准：ETSI TS 101 086V8.2.0 数字蜂窝电信系统（第2+阶段）；用户识别模块(SIM) 测试规范

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海精密计量测试研究所

检测项：接触电阻检测样品：非密封钮子开关标准：GJB2450-1995 非密封钮子开关总规范

检测项：接触电阻检测样品：非密封钮子开关标准：GJB2450-1995 非密封钮子开关总规范

检测项：非透明玻璃封装、双管脚、非空腔、轴向引线二极管外观目检检测样品：半导体分立器件标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

洁净室（区）中沉降菌的检测

电缆及附件试验方法中护层厚度的检测

复合材料中非泡沫塑料密度的检测

食品中苯佐卡因的检测

中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

北京尊冠科技有限公司

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

北京银联金卡科技有限公司/银行卡检测中心

中国电子科技集团公司第七研究所凯尔实验室

上海精密计量测试研究所

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务