您当前的位置:首页 > 额定工作时间试验
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:额定电压下的冲击合闸试验 检测样品:电抗器及消弧线圈 标准:《电力设备交接和预防性试验规程》Q/HBW 14701-2008 《输变电设备状态检修试验规程》Q/GDW 168-2008
机构所在地:北京市
机构所在地:江苏省南京市
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:浪涌(冲击)抗扰度试验 检测样品:额定电流不大于16A的电子、电气设备 (EMC) 标准:GB/T 17626.5-2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
检测项:浪涌(冲击)抗扰度试验 检测样品:额定电流不大于16A的电子、电气设备 (EMC) 标准:GB/T 17626.5-2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
检测项:持续工作时间 检测样品:通过式金属探测门 标准:GB 15210-2003通过式金属探测门通用技术规范 MH 7012-2004 民用航空通过式金属探测门
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:河南省郑州市
检测项:最高额定工作 温度下的开关试验 检测样品:半导体 集成电路外壳 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法303
检测项:最低额定工作 温度下的开关试验 检测样品:半导体 集成电路外壳 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法303
机构所在地:江苏省无锡市