北京通用电气华伦医疗设备有限公司电磁兼容实验室

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：医用电气设备和系统、工科医设备、信息技术设备、家用电器、电动工具和类似用具 （电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对额定电源不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008

检测项：谐波电流发射 检测样品：医用电气设备和系统、工科医设备、信息技术设备、家用电器、电动工具和类似用具 （电磁兼容） 标准：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2009

检测项：谐波电流发射 检测样品：医用电气设备和系统、工科医设备、信息技术设备、家用电器、电动工具和类似用具 （电磁兼容） 标准：医用电气设备–第1-2部分: 通用安全要求-并行标准 :电磁兼容要求和测试 YY 0505-2012* IEC 60601-1-2:2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

检测项：输出短路保护 检测样品： 标准：

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：测量、控制和实验室用电气设备/探头 标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全 电工测量和试验用手持探头的特殊要求 GB 4793.5-2008 IEC 61010-031:2002 +A1:2008 EN 61010-031:2002 +A1:2008

检测项：电压变化、波动和闪烁 检测样品：电磁兼容 (工业、科学、医疗设备) 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流小于或等于16A且无条件接入的设备在公用低电压供电系统中产生的电压变化.电压波动和闪烁 EN61000-3-3：2008 IEC61000-3-3：2008 GB17625.2-2007

检测项：电压变化、波动和闪烁 检测样品：电磁兼容/信息技术设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流小于或等于且无条件接入的设备在公用低电压供电系统中产生的电压变化.电压波动和闪烁 EN61000-3-3：2008 IEC61000-3-3：2008 GB17625.2-2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：短路断态电流Ids 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：反向截止电流ICEO 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

黑龙江省电子信息产品监督检验院/中国赛宝（黑龙江）实验室

检测项：部分参数 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气第一部分：安全通用要求 GB9706.1-2007 医用电气环境要求及试验方法 GB14710-2009

检测项：部分参数 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB4943.1--2011

检测项：部分参数 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全通用要求GB4706.1-2005

机构所在地：黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>

天祥公证行有限公司-消费及商用电子电气

检测项：部分项目 检测样品：所有电器及电子产品 标准：低压供电系统中额定电流不大于16A的设备的电压波动和闪烁的限值 IEC61000-3-3:1995+A1 IEC 61000-3-3: 2008

检测项：部分项目 检测样品：所有电器及电子产品 标准：低压供电系统中额定电流不大于16A的设备的电压波动和闪烁的限值 IEC61000-3-3:1995+A1 IEC 61000-3-3: 2008

检测项：部分项目 检测样品：所有电机及电子产品 标准：低压供电系统中额定电流不大于16A的设备的电压波动和闪烁的限值 EN 61000-3-3: 1995+A1+A2 EN 61000-3-3: 2008

机构所在地： 更多相关信息>>

深圳必维华法商品检定有限公司东莞分公司

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 限值 对于每相额定电流>16A且无条件接入的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限值 GB 17625.3:2000 IEC 61000-3-11:2000 EN 61000-3-11:2000

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 限值 对于每相额定电流>16A且无条件接入的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限值 GB 17625.3:2000 IEC 61000-3-11:2000 EN 61000-3-11:2000

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 限值 对于每相额定电流不大于16A且无条件接入的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限值 GB 17625.2:2003 IEC 61000-3-3:2005 + A1:2008 + A2:2009 EN 61000-3-3:2

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

上海同耀通信技术有限公司

检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：电子产品（电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁限值 GB 17625.2-2007

检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：电子产品（电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁限值 IEC 61000-3-3:2008

检测项：部分 项目 检测样品：电子产品（电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁限值 EN 61000-3-3:2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

联想（北京）有限公司可靠性实验室

检测项：电压波动和闪烁试验 检测样品：微型计算机 标准：《电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限值》GB17625.2-2007

检测项：谐波电流发射试验 检测样品：微型计算机 标准：《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》 GB 17625.1-2012

检测项：受限制电源测试 检测样品：微型计算机 标准：《信息技术设备 安全 第1部分：通用要求》GB4943.1-2011条款2.5

机构所在地：北京市 更多相关信息>>