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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:供油系统气阻 检测样品:汽车 标准:GB/T 12781-1991 汽车供油系气阻试验方法
检测项:耐低温性能 检测样品:汽车电子零部件-环境试验 标准:GB/T 2423.1–2008(idt IEC 60068–2–1:2007) 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:**部分项目 检测样品:交流电力系统线路阻波器 标准:JB/T 10431-2004 高燃点绝缘油电力变压器
检测项:**部分项目 检测样品:交流电力系统线路阻波器 标准:JB/T 501-2006 电力变压器试验导则
检测项:**部分项目 检测样品:交流电力系统线路阻波器 标准:JB/T9641-1999 试验变压器
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态电流 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输出高阻态电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高阻态电流 检测样品:FPGA现场可编程器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:漏电流 检测样品:固定 电感器 标准:《电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序》 GB/T 8554-1998
检测项:热真空 检测样品:电子、 电工产品 标准:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验》 GB/T2423.26-2008