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元器件破坏性物理分析中质量一致性试验检测

  • 样品名称:元器件破坏性物理分析

  • 检测项目:质量一致性试验

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 质量一致性试验 元器件破坏性物理分析

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