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样品名称：元器件破坏性物理分析
检测项目：部分项目
认可资质：CNAS CMA
检测标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》
所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >
标签： 部分项目 元器件破坏性物理分析
