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半导体材料中晶格常数检测

  • 样品名称:半导体材料

  • 检测项目:晶格常数

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则; JY/T 009-1996 金属点阵常数的测定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常数测试方法ZKB 0045-2013

  • 所属行业分类:

  • 标签: 晶格常数 半导体材料

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