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中国科学院半导体研究所照明检测中心
北京市
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样品名称:半导体材料
检测项目:晶格常数
认可资质:CNAS CMA
检测标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则; JY/T 009-1996 金属点阵常数的测定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常数测试方法ZKB 0045-2013
所属行业分类:
标签: 晶格常数 半导体材料