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半导体材料中组份检测

  • 样品名称:半导体材料

  • 检测项目:组份

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 GB/T 24576-2009

  • 所属行业分类:

  • 标签: 组份 半导体材料

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