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中国科学院半导体研究所照明检测中心
北京市
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样品名称:半导体材料
检测项目:微观形貌
认可资质:CNAS CMA
检测标准:分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996
所属行业分类:
标签: 微观形貌 半导体材料