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连云港市质量技术综合检验检测中心
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样品名称:晶体硅
检测项目:III-V族杂质含量
认可资质:CNAS CMA
检测标准:《半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法》 GB/T 6616-2009
所属行业分类:石油化工品
标签: III-V族杂质含量 晶体硅