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晶体硅中III-V族杂质含量检测

  • 样品名称：晶体硅

  • 检测项目：III-V族杂质含量

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：《单晶硅Ⅲ－Ⅴ级杂质的低温FT－IR分析测试方法》 SEMI MF1630-1107

  • 所属行业分类：石油化工品

  • 标签： III-V族杂质含量 晶体硅

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