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电子及电器工业用二氧化硅微粉中比表面积检测

  • 样品名称：电子及电器工业用二氧化硅微粉

  • 检测项目：比表面积

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：《金属粉末比表面积的测定 氮吸附法》 GB/T13390-2008

  • 所属行业分类：材料分析 > 材料与产品的化学检测 >

  • 标签： 比表面积 电子及电器工业用二氧化硅微粉

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