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晶体管中射基极反向击穿电压检测

  • 样品名称:晶体管

  • 检测项目:射基极反向击穿电压

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3026.1

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 射基极反向击穿电压 晶体管

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