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硅晶体中表面金属杂质铝检测

  • 样品名称：硅晶体

  • 检测项目：表面金属杂质铝

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：酸浸渍-电感耦合等离子体质谱仪测定多晶硅表面金属杂质GB/T 24582-2009

  • 所属行业分类：材料分析 > 材料与产品的化学检测 >

  • 标签： 表面金属杂质铝 硅晶体

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