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薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片中全部参数检测

  • 样品名称:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

  • 检测项目:全部参数

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-1993

  • 所属行业分类:建筑与建材

  • 标签: 全部参数 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

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