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工业硅中Ⅲ、Ⅴ族杂质检测

  • 样品名称:工业硅

  • 检测项目:Ⅲ、Ⅴ族杂质

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GB/T 24581-2009 低温傅里叶变换红外光谱法测量单晶硅中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测定方法

  • 所属行业分类:材料分析 > 材料与产品的化学检测 >

  • 标签: Ⅲ、Ⅴ族杂质 工业硅

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