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陕西天宏硅材料有限责任公司检测中心
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样品名称:工业硅
检测项目:Ⅲ、Ⅴ族杂质
认可资质:CNAS CMA
检测标准:GB/T 24581-2009 低温傅里叶变换红外光谱法测量单晶硅中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测定方法
所属行业分类:材料分析 > 材料与产品的化学检测 >
标签: Ⅲ、Ⅴ族杂质 工业硅