半导体集成电路外壳中电特性 a)绝缘电阻 b)引线电阻检测

• 样品名称：半导体集成电路外壳

• 检测项目：电特性 a)绝缘电阻 b)引线电阻

• 认可资质：CNAS CMA

• 检测标准：1、GJB 1420A-1999 半导体集成电路外壳 总规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

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• 标签： 电特性 a)绝缘电阻 b)引线电阻 半导体集成电路外壳