您当前的位置:首页 > 中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心 > 半导体分立器件失效分析中管壳开封检测

  • 中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

  • 河北省石家庄市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

半导体分立器件失效分析中管壳开封检测

  • 样品名称:半导体分立器件失效分析

  • 检测项目:管壳开封

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

  • 所属行业分类:

  • 标签: 管壳开封 半导体分立器件失效分析

半导体分立器件失效分析中管壳开封更多检测机构