电子元器件及设备 物理性能试验中密封检漏检测

• 样品名称：电子元器件及设备 物理性能试验

• 检测项目：密封检漏

• 认可资质：CNAS CMA

• 检测标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

• 所属行业分类：

• 标签： 密封检漏 电子元器件及设备 物理性能试验