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电子元器件及设备 物理性能试验中密封检漏检测

  • 样品名称:电子元器件及设备 物理性能试验

  • 检测项目:密封检漏

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

  • 所属行业分类:

  • 标签: 密封检漏 电子元器件及设备 物理性能试验

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