官方微信
您当前的位置:首页 > 中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心 > 半导体分立器件外壳中控制极触发电流的最大值IGT检测
中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心
河北省石家庄市
咨询电话:400-818-0021
免费发布检测需求
登陆查看更多联系方式
样品名称:半导体分立器件外壳
检测项目:控制极触发电流的最大值IGT
认可资质:CNAS CMA
检测标准:1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
所属行业分类:
标签: 控制极触发电流的最大值IGT 半导体分立器件外壳