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样品名称:军用电子元器件破坏性物理分析
检测项目:增益控制范围
认可资质:CNAS CMA
检测标准:1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4、GJB 360A-1996 电子及
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标签: 增益控制范围 军用电子元器件破坏性物理分析