电子元器件及设备 机械性能试验中间歇寿命检测

• 样品名称：电子元器件及设备 机械性能试验

• 检测项目：间歇寿命

• 认可资质：CNAS CMA

• 检测标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 5、GJB 3

• 所属行业分类：电子电气 > 环境试验 >

• 标签： 间歇寿命 电子元器件及设备 机械性能试验