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上海精密计量测试研究所
上海市
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样品名称:半导体集成电路时基电路
检测项目:静态漏-源通态电阻RDS(on)
认可资质:CNAS CMA
检测标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: 静态漏-源通态电阻RDS(on) 半导体集成电路时基电路