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半导体集成电路时基电路中静态漏-源通态电阻RDS(on)检测

  • 样品名称:半导体集成电路时基电路

  • 检测项目:静态漏-源通态电阻RDS(on)

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 静态漏-源通态电阻RDS(on) 半导体集成电路时基电路

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