半导体集成电路时基电路中漏-源击穿电压V(BR)DSS检测

• 样品名称：半导体集成电路时基电路

• 检测项目：漏-源击穿电压V(BR)DSS

• 认可资质：CNAS CMA

• 检测标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

• 所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >

• 标签： 漏-源击穿电压V(BR)DSS 半导体集成电路时基电路