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半导体集成电路MOS随机存储器中工作状态时电源电流ICC检测

  • 样品名称：半导体集成电路MOS随机存储器

  • 检测项目：工作状态时电源电流ICC

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

  • 所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签： 工作状态时电源电流ICC 半导体集成电路MOS随机存储器

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