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上海精密计量测试研究所
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样品名称:半导体集成电路MOS随机存储器
检测项目:地址取数时间tAA
认可资质:CNAS CMA
检测标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: 地址取数时间tAA 半导体集成电路MOS随机存储器