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上海精密计量测试研究所
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样品名称：半导体集成电路TTL电路
检测项目：读周期时间tRC
认可资质：CNAS CMA
检测标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >
标签： 读周期时间tRC 半导体集成电路TTL电路
