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上海精密计量测试研究所
上海市
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样品名称:半导体分立器件
检测项目:X射线无损检测
认可资质:CNAS CMA
检测标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: X射线无损检测 半导体分立器件