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上海精密计量测试研究所
上海市
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样品名称:微电子器件
检测项目:芯片目检(半导体二极管)
认可资质:CNAS CMA
检测标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: 芯片目检(半导体二极管) 微电子器件