您当前的位置:首页 > 上海精密计量测试研究所 > 微电子器件中晶体管内部目检(封帽前)检测

  • 上海精密计量测试研究所

  • 上海市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

微电子器件中晶体管内部目检(封帽前)检测

  • 样品名称:微电子器件

  • 检测项目:晶体管内部目检(封帽前)

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 晶体管内部目检(封帽前) 微电子器件

微电子器件中晶体管内部目检(封帽前)更多检测机构

  • 我要留言 国家电子电器产品检测中心
  • 我要留言 贵州航天计量测试技术研究所
  • 我要留言 中兴通讯股份有限公司材料实验室
  • 我要留言 陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心
  • 我要留言 中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室
  • 我要留言 武汉中原电子集团有限公司计量检测中心