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电子元器件试验中高温贮存检测

  • 样品名称:电子元器件试验

  • 检测项目:高温贮存

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验;

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 高温贮存 电子元器件试验

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