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电子元器件试验中温度循环检测

  • 样品名称:电子元器件试验

  • 检测项目:温度循环

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环(空气-空气) 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验;

  • 所属行业分类:电子电气 > 环境试验 >

  • 标签: 温度循环 电子元器件试验

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