半导体集成电路MOS随机存储器中截止态漏极漏电流 ID（Off）检测

• 样品名称：半导体集成电路MOS随机存储器

• 检测项目：截止态漏极漏电流 ID（Off）

• 认可资质：CNAS CMA

• 检测标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

• 所属行业分类：

• 标签： 截止态漏极漏电流 ID（Off） 半导体集成电路MOS随机存储器