半导体器件中1032 高温寿命（非工作）（抽样方案）检测

• 样品名称：半导体器件

• 检测项目：1032 高温寿命（非工作）（抽样方案）

• 认可资质：CNAS CMA

• 检测标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

• 所属行业分类：电子电气 > 环境试验 >

• 标签： 1032 高温寿命（非工作）（抽样方案） 半导体器件