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样品名称：半导体器件
检测项目：1037 间歇工作寿命（抽样方案）
认可资质：CNAS CMA
检测标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》
所属行业分类：电子电气 > 环境试验 >
标签： 1037 间歇工作寿命（抽样方案） 半导体器件
