您当前的位置:首页 > 中国物品编码中心自动识别技术检验实验室 > 集成电路(IC)卡中可译码度(Decodability)测量误差检测

  • 中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

  • 北京市

咨询电话:400-818-0021

免费发布检测需求

登陆查看更多联系方式

集成电路(IC)卡中可译码度(Decodability)测量误差检测

  • 样品名称:集成电路(IC)卡

  • 检测项目:可译码度(Decodability)测量误差

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:1. GB/T 17554.1-2006识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 2.ISO/IEC10373-1:2006识别卡-测试方法-第1部分:一般特性测试

  • 所属行业分类:

  • 标签: 可译码度(Decodability)测量误差 集成电路(IC)卡

集成电路(IC)卡中可译码度(Decodability)测量误差更多检测机构