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集成电路(IC)卡中缺陷度(Defects)测量误差检测

  • 样品名称：集成电路(IC)卡

  • 检测项目：缺陷度(Defects)测量误差

  • 认可资质：CNAS CMA

  • 检测标准：1. GB/T 17554.1-2006识别卡 测试方法 第1部分：一般特性测试 2.ISO/IEC10373-1:2006识别卡-测试方法-第1部分:一般特性测试

  • 所属行业分类：

  • 标签： 缺陷度(Defects)测量误差 集成电路(IC)卡

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