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集成电路(IC)卡中非接触IC卡近耦合卡尺寸与位置检测

  • 样品名称:集成电路(IC)卡

  • 检测项目:非接触IC卡近耦合卡尺寸与位置

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:ISO/IEC 10536-2:1995 识别卡-非接触集成电路卡-近耦合卡 第2部分:耦合区域的尺寸和位置

  • 所属行业分类:

  • 标签: 非接触IC卡近耦合卡尺寸与位置 集成电路(IC)卡

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