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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室
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样品名称：场效应 晶体管
检测项目：静态漏-源通态电压
认可资质：CNAS CMA
检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
所属行业分类：
标签： 静态漏-源通态电压 场效应 晶体管
