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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室
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样品名称:电子元器件
检测项目:密封(氦质谱检漏)
认可资质:CNAS CMA
检测标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法1038、1039
所属行业分类:
标签: 密封(氦质谱检漏) 电子元器件