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半导体分立器件、集成电路、光电器件中电压降检测

  • 样品名称:半导体分立器件、集成电路、光电器件

  • 检测项目:电压降

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006

  • 所属行业分类:电子电气

  • 标签: 电压降 半导体分立器件、集成电路、光电器件

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