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贵州航天计量测试技术研究所
贵州省贵阳市
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样品名称:半导体分立器件、集成电路、光电器件
检测项目:介质耐电压
认可资质:CNAS CMA
检测标准:《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006
所属行业分类:电子电气
标签: 介质耐电压 半导体分立器件、集成电路、光电器件