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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心
重庆市
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样品名称:光耦
检测项目:击穿电压
认可资质:CNAS CMA
检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: 击穿电压 光耦