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元器件筛选中温度冲击检测

  • 样品名称:元器件筛选

  • 检测项目:温度冲击

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方

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  • 标签: 温度冲击 元器件筛选

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