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半导体集成电路模拟开关中粒子碰撞噪声检测试验检测

  • 样品名称:半导体集成电路模拟开关

  • 检测项目:粒子碰撞噪声检测试验

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 粒子碰撞噪声检测试验 半导体集成电路模拟开关

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